薄膜厚度测量仪薄膜测厚仪的原理与技术参数

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　　塑料包装材料厚度是否均匀，是检测其各项性能指标的基础。包装材料厚度不均匀，会影响到其阻隔、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。

　　薄膜厚度测量仪，又被称为薄膜测厚仪、膜厚测试仪、薄膜厚度仪等，是一种用于测量薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料厚度的仪器设备。

　　机械接触式薄膜测厚仪的测试原理，是通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。在测试前，仪器的测量头落在设备砧板上，传感器读取测量头的初始位移值，测量头抬起后，将试样放置在砧板纸上，测量头以同样的压力落在试样上，传感器读取测量头的位移值，两次位移值之差则为试样的厚度值。

薄膜厚度测量仪薄膜测厚仪技术参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重复性：0.4μm

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速度：1.5～80mm/s（可设定）

测量方式：机械接触式

薄膜测量压力及接触面积：17.5±1 kPa、50 mm2

纸张测量压力及接触面积：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)